Die EyeVision-Softwareplattform integriert nun die Heliotis H8/H8M Weißlicht-Interferometer-Sensoren für exakte submikrometergenaue Höhenanalyse. Anwender nutzen verdichtete 3D-Punktwolken sowie Höhenkarten gemeinsam mit vorhandenen 2D-, 3D-, KI- und Code-Lesetools. Hochdynamisches Weißlicht-Interferenzprofiling ermöglicht reproduzierbare Oberflächencharakterisierungen. Dank systemunabhängiger Architektur und benutzerfreundlichem Drag-and-Drop-Workflow-Editor lassen sich Prüfketten schnell aufsetzen, Parametrierungen anpassen und automatisierte Kontrollen in Fertigungs- und Inspektionsanwendungen ohne hohen Einrichtungsaufwand realisieren. Kalibrierverfahren werden integriert, Prozessdaten protokolliert, Qualitätsparameter dokumentiert und Prüfberichte automatisiert generiert und Kosten nachhaltig reduzieren.
Inhaltsverzeichnis: Das erwartet Sie in diesem Artikel
Einheitliche EyeVision-Oberfläche verarbeitet H8/H8M Höhendaten mit KI und Codes
Anwender profitieren ab sofort von der direkten Erfassung submikrometergenaue r Höhendaten der H8/H8M-Sensoren innerhalb ihrer EyeVision-Umgebung, die nahtlos mit bestehenden 2D-, 3D-, KI- und Code-Lese-Funktionen arbeitet. Die neue Schnittstelle gewährleistet eine konsistente Datenerfassung und Auswertung in einer einzigen Benutzeroberfläche, wodurch der Entwicklungsaufwand sinkt und Einarbeitungszeiten minimiert werden. Einheitliche Konfigurationen und frei definierbare Workflows ermöglichen flexible Anpassungen, während die hardwareunabhängige Architektur plattformübergreifende Einsätze in verschiedensten Automatisierungsprojekten unterstützt. Optimierte Prozesse erhöhen Qualität.
Submikrometergenaue Sensorik gewährleistet störungsfreie Analyse kleinster Bauteiloberflächen im Detail
Kernmerkmal des H8-Sensors ist die Erzeugung submikrometergenaue Profildaten, die Planaritätstoleranzen und Oberflächenunregelmäßigkeiten im Submikrometerbereich exakt aufzeichnen. Anwender erhalten umfassende Einsichten in kleinste Höhenvariationen und können damit feinste Produktionsfehler effizient lokalisieren. Die präzisen Daten unterstützen Qualitätsengineers bei der Validierung von Prozesseinstellungen und der Sicherstellung von Bauteilkonformität. So lassen sich Taktzeiten optimieren, Ausschussquoten senken und die Produktqualität nachhaltig steigern. Messzyklen werden beschleunigt, Messunsicherheiten reduziert, und fundierte Entscheidungen im Produktionsumfeld schnell präzise ermöglicht.
H8 WLI-Technologie garantiert zuverlässige wiederholbare Oberflächenprofilierung und submikrometergenaue Höhenmessung
Die hochdynamische Weißlichtinterferenz im H8-System bietet einen weiten Messbereich kombiniert mit submikrometergenaue Auflösung. Durch mehrere Rapid-Scan-Algorithmen entstehen reproduzierbare Topografie-Daten von Bauteiloberflächen, die selbst kleinste Morphologie-Abweichungen offenbaren. Anwender erhalten so verlässliche Informationen für präventive Instandhaltung und Prozessverbesserungen. Die rasche Datenerfassung und Datenverarbeitung unterstützt automatisierte Inspektionslinien und gewährleistet konsistente Qualitätsniveaus in Serienfertigung und Forschungslaboren gleichermaßen. Sie ermöglichen adaptives Feedback, inline-Kalibrierung, digitale Zwillinge sowie umfassende Reporting-Tools für fundierte Entscheidungen und definierte Prozessparameter automatisch bereitstellen.
Flächen-, Volumenmessungen, Kantenerkennung und Profilvergleiche bereit in EyeVision Plattform
Die technische Infrastruktur von EyeVision erlaubt eine direkte Einbindung von 3D-Punktwolken sowie Höhendaten in den Auswertungsprozess. Anwender profitieren sofort von einer umfangreichen Toolpalette zur Flächen- und Volumenbestimmung, ohne komplizierte Schnittstellenkonfiguration. Die integrierte Kantenerkennung detektiert selbst geringste Formabweichungen, während Profilvergleichsverfahren differenzierte Analysen unterschiedlicher Datensätze ermöglichen. Dieses modulare Konzept optimiert Prüfabläufe, gewährleistet konsistente Ergebnisse und unterstützt eine durchgängige Automatisierung komplexer Oberflächeninspektionen. Somit entfallen Datenumwandlungen und steigern Effizienz, Prozessstabilität sowie Messgenauigkeit und Zuverlässigkeit.
EyeVision kombiniert Wärmebild Hyperspektral Smart Kameratechnik in offener Architektur
EyeVision setzt auf eine hardwareunabhängige Plattform-Philosophie, die komplette Freiheit bei der Gerätewahl bietet. Anwender können neben hochpräzisen Heliotis H8/H8M Weißlicht-Interferometern auch Zeilenkameras oder 2D-Kameras verwenden, um vielfältige Prüfaufgaben abzubilden. Optional liefern Wärmebild- und Hyperspektralkameras zusätzliche Parameter, während Smart-Kameras Funktionen wie Barcode-Lesen oder Deep-Learning-Analyse übernehmen. Dank herstellerübergreifender Schnittstellen und Drivereinbindung erfolgt die Kombination beliebiger Kamerasysteme reibungslos. So entsteht ein flexibles Ökosystem für industrielle Automatisierung. Offene Architektur unterstützt künftige, modulare Erweiterungen problemlos.
Visueller Editor integriert Messtechnik, Fehlererkennung und 3D-Punktwolken-Auswertung per Drag-and-Drop
Dieser Workflow-Editor unterstützt per Drag-and-Drop die nahtlose Zusammenstellung komplexer Messketten. Anwender wählen aus einer Bibliothek leistungsstarker Tools für Dimensionsmessungen, Fehleranalyse, Oberflächenprofiling und 3D-Punktwolken-Auswertung. Die übersichtliche Canvas-Oberfläche bietet Echtzeit-Vorschauen und erlaubt schnelle Anpassungen. Dank plattformunabhängiger Architektur läuft die Lösung unter Windows und Linux auf Embedded-Geräten sowie PCs. So lassen sich skalierbare Automatisierungsprojekte effizient realisieren und Prüfabläufe in verschiedensten Industrieumgebungen optimieren. Kollektionen wiederkehrender Messketten können reibungslos versioniert und einfach teamübergreifend geteilt werden.
Flexibel skalierbare EyeVision-Software für verschiedene Automatisierungsanforderungen unter Windows Linux
Durch den optimierten Workflow von EyeVision lassen sich Prüf- und Messsysteme innerhalb kürzester Zeit betriebsbereit aufsetzen. Die Plattform adaptiert sich dank hardwareunabhängiger Komponenten nahtlos an verschiedenste Embedded- und PC-Architekturen unter Windows und Linux. Anwender konfigurieren Verfahren zur Datenerfassung, Analyse und Steuerung über visuelle Editoren per Drag-and-Drop. Änderungen können on-the-fly übernommen werden. Somit ermöglicht EyeVision schnelle Reaktionszeiten auf Prozessänderungen und flexible Erweiterungen bei steigenden Anforderungen. Updates laufen parallel zum Betrieb.
Intuitiver Drag-and-Drop-Workflow ermöglicht submikrometergenaue Inspektionen mit H8 und H8M-Sensoren
EyeVision erweitert Toolset um Heliotis H8/H8M Weißlichtinterferometer und liefert submikrometergenaue 3D-Höhendaten sowie hochdichte Punktwolken direkt im Workflow. Kombination aus hochdynamischer WLI-Technologie und 2D-/3D-Analyse steigert Genauigkeit bei Planaritätsprüfungen, Strukturerkennung und Profilvergleichen. Die hardwareunabhängige Plattform unterstützt diverse Kameratypen und ermöglicht schnelle Konfiguration per Drag-and-Drop. Anwender erzielen reproduzierbare Oberflächeninspektionen, optimieren Fertigungsprozesse und realisieren skalierbare Automatisierungslösungen unter Windows und Linux. Feinste Abweichungen werden sicher erkannt und dokumentiert. Sowie Integration in bestehende Produktionsstraßen durch flexible Schnittstellen.
